Volume 51; Issue 9-11

Microelectronics Reliability

Volume 51; Issue 9-11
3

Concurrent PBTI and hot carrier degradation in n-channel MuGFETs

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2011
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english
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english, 2011
8

Positive bias temperature instabilities on sub-nanometer EOT FinFETs

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2011
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english, 2011
10

Dynamic electro-thermal modeling for power device assemblies

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2011
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english, 2011
14

Progressive module redundancy for fault-tolerant designs in nanoelectronics

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2011
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english, 2011
17

Migration induced material transport in Cu–Sn IMC and SnAgCu microbumps

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2011
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english, 2011
18

Thermal optimization of GaN-on-Si HEMTs with plastic package

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2011
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english, 2011
21

Analysis of critical-length data from Electromigration failure studies

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2011
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english, 2011
22

Electric field unbalance for robust floating ring termination

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2011
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english, 2011
24

Thermal impedance spectroscopy of power modules

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2011
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english, 2011
31

A study of SiC Power BJT performance and robustness

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2011
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english, 2011
39

Reliability aware design of low power continuous-time sigma–delta modulator

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2011
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english, 2011
43

Optimization of wire connections design for power electronics

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2011
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english, 2011
48

Dynamic defect localization using FPGA to monitor digital values

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2011
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english, 2011
50

From component to system failure analysis – The future challenge within work-sharing supply chains

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2011
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english, 2011
51

Design considerations and strategies for high-reliable STT-MRAM

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2011
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english, 2011
54

Statistical modeling of reliability in logic devices

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2011
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english, 2011
55

Impact of irregular geometries on low-k dielectric breakdown

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2011
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english, 2011
57

Effects of device layout on the drain breakdown voltages in MuGFETs

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2011
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english, 2011
59

“Design for EMI” approach on power PiN diode reverse recovery

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2011
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english, 2011
68

High temperature long term stability of SiC Schottky diodes

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2011
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english, 2011
76

MOS-IGBT power devices for high-temperature operation in smart power SOI technology

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2011
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english, 2011
79

Mechanism of breakdown voltage wavering in power MOSFET induced by silicon crystalline defect

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2011
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english, 2011
89

Warpage analysis of layered structures connected by direct brazing

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2011
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english, 2011
96

DC parameters for laser diodes from experimental curves

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2011
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english, 2011
98

Comprehensive nanostructural study of SSRM nanocontact on silicon

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2011
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english, 2011
101

Dynamic active cooling for improved power system reliability

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2011
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english, 2011
103

Reliability study of AlGaN/GaN HEMT under electromagnetic, RF and DC stress

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2011
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english, 2011
108

Foundry workflow for dynamic-EFA-based yield ramp

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2011
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english, 2011
111

Characterization and modelling of single event transients in LDMOS-SOI FETs

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2011
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english, 2011
112

A bottom-up approach for System-On-Chip reliability

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2011
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english, 2011
115

Editorial

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2011
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english, 2011
116

Inside front cover - Editorial board

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english, 2011