An active heat-based restoring mechanism for improving the...

Microelectronics Reliability 2011 Vol. 51; Iss. 9-11

An active heat-based restoring mechanism for improving the reliability of RF-MEMS switches

J. Iannacci, A. Faes, A. Repchankova, A. Tazzoli, G. Meneghesso
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Volume:
51
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/j.microrel.2011.06.019
Fichier:
PDF, 899 KB
english, 2011
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