Dynamic defect localization using FPGA to monitor digital...

Microelectronics Reliability 2011 Vol. 51; Iss. 9-11

Dynamic defect localization using FPGA to monitor digital values

L. Saury, S. Cany
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Volume:
51
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/j.microrel.2011.06.064
Fichier:
PDF, 371 KB
english, 2011
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