Failure mechanisms in advanced BCD technology during...

Microelectronics Reliability 2011 Vol. 51; Iss. 9-11

Failure mechanisms in advanced BCD technology during reliability qualification

J.G. van Hassel, G.A.D. Bock, G. van den Berg
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Volume:
51
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/j.microrel.2011.07.043
Fichier:
PDF, 918 KB
english, 2011
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