Campagne de collecte 15 septembre 2024 – 1 octobre 2024 C'est quoi, la collecte de fonds?

A new test methodology for an exhaustive study of...

Microelectronics Reliability 2011 Vol. 51; Iss. 9-11

A new test methodology for an exhaustive study of single-event-effects on power MOSFETs

G. Busatto, D. Bisello, G. Currò, P. Giubilato, F. Iannuzzo, S. Mattiazzo, D. Pantano, A. Sanseverino, L. Silvestrin, M. Tessaro, F. Velardi, J. Wyss
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Volume:
51
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/j.microrel.2011.07.023
Fichier:
PDF, 1.11 MB
english, 2011
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