Volume 52; Issue 4

Microelectronics Reliability

Volume 52; Issue 4
2

Spin-transfer torque RAM technology: Review and prospect

Année:
2012
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english
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english, 2012
3

NAND flash memory technology utilizing fringing electric field

Année:
2012
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english
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english, 2012
4

A comparative study of charge pumping circuits for flash memory applications

Année:
2012
Langue:
english
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english, 2012
5

Gadolinium-based metal oxide for nonvolatile memory applications

Année:
2012
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english
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english, 2012
7

Emerging memory technologies: Trends, challenges, and modeling methods

Année:
2012
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english
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english, 2012
8

Perspective of flash memory realized on vertical Si nanowires

Année:
2012
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english
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english, 2012
10

Advances in non-volatile memory technology

Année:
2012
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english
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english, 2012
17

Chip warpage model for reliability prediction of delamination failures

Année:
2012
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english
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english, 2012
19

Inside front cover - Editorial board

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2012
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english
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english, 2012