Perspective of flash memory realized on vertical Si...

Microelectronics Reliability 2012 Vol. 52; Iss. 4

Perspective of flash memory realized on vertical Si nanowires

HongYu Yu, Yuan Sun, Navab Singh, Guo-Qiang Lo, Dim-Lee Kwong
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Volume:
52
Année:
2012
Langue:
english
Pages:
11
DOI:
10.1016/j.microrel.2011.10.025
Fichier:
PDF, 1.74 MB
english, 2012
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