Volume 333; Issue 4-5

2

Editorial

Année:
1989
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english
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english, 1989
3

Philosophical aspects on analytical chemistry

Année:
1989
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english
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english, 1989
4

Coating technology

Année:
1989
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english
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english, 1989
6

Investigations on zirconium-containing conversion layers on aluminium

Année:
1989
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english
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english, 1989
7

Multidimensional image acquisition and processing in surface analysis

Année:
1989
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english
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english, 1989
8

Scanning tunneling microscopy — a new method in surface analysis

Année:
1989
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english
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english, 1989
11

SIMS depth profiling using new gate techniques

Année:
1989
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english
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english, 1989
12

Quantitative Auger depth profiling of LPCVD and PECVD silicon nitride films

Année:
1989
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english
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english, 1989
13

Ion fractions of matrix elements and impurities in GaAs bombarded by O2+primary ions

Année:
1989
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english
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english, 1989
15

Chemical and matrix effects in Auger electron spectroscopy

Année:
1989
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english
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english, 1989
19

Potentiometry on MIM-structures with a STM

Année:
1989
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english
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english, 1989
23

Study of transient thermal surface processes

Année:
1989
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english
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english, 1989
24

Surface and depth-profile analysis using FTIR spectroscopy

Année:
1989
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english
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english, 1989
25

Analytical problems with ceramic materials

Année:
1989
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english
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english, 1989
26

Problems with the analysis of glass and glass ceramic surfaces and coatings

Année:
1989
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english
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english, 1989
27

Self-diffusion in Mg2SiO4(forsterite) at high temperature

Année:
1989
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english
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english, 1989
29

Microanalytical investigation of fibre-reinforced ceramic materials

Année:
1989
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english
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english, 1989
35

Quantitative depth profiling with AES: application to oxide layers of NiCrFe alloys

Année:
1989
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english
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english, 1989
36

Ellipsometrical measurements on porous copper films

Année:
1989
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english
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english, 1989
39

Interface analysis in metal matrix composites

Année:
1989
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english, 1989
40

A study of photographic paper by secondary-ion-mass-spectrometry

Année:
1989
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english, 1989
45

Quantification of SNMS investigations of coated materials

Année:
1989
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english
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english, 1989
47

Determination of the surface segregation of alloys

Année:
1989
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english
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english, 1989
48

Surface analysis problems in tribology

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1989
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english
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english, 1989
49

Wear mechanisms of ultra-hard non-metallic cutting materials

Année:
1989
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english
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english, 1989
51

Depth scale calibration during sputter removal of multilayer systems by SNMS

Année:
1989
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english
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english, 1989
54

Optical and electron spectroscopy of magneto-optical storage films

Année:
1989
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english
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english, 1989
56

Thickness measurement of thin dielectrics with electron spectroscopy

Année:
1989
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english
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english, 1989
59

Comparative surface and bulk analysis of oxygen in Si3N4powders

Année:
1989
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english
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english, 1989
60

In situ ion implantation for quantification in secondary-ion mass spectrometry

Année:
1989
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english, 1989
62

Characterization of semiconductor surfaces

Année:
1989
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english
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english, 1989
63

Dynamic examinations at photoresists by reflectance spectroscopy

Année:
1989
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english, 1989
64

B-contamination of Si-surfaces

Année:
1989
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english, 1989
66

Surface analytical characterization of oxide-free Si(100) wafer surfaces

Année:
1989
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english
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english, 1989
69

XPS and ISS analysis of Fischer-Tropsch catalysts

Année:
1989
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english
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english, 1989
70

Interaction between S-organic compounds and iron surfaces

Année:
1989
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english
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english, 1989
72

A CEMS/AES study of the passivation of iron

Année:
1989
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english
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english, 1989
76

Ion channeling analysis of buried epitaxial Co silicides

Année:
1989
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english
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english, 1989
80

Neue Geräte und Chemikalien

Année:
1989
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german
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german, 1989