Detection of metallic trace impurities on Si(100) surfaces...

Detection of metallic trace impurities on Si(100) surfaces with total reflection X-ray fluorescence (TXRF)

V. Penka, W. Hub
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Volume:
333
Année:
1989
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1007/bf00572381
Fichier:
PDF, 396 KB
english, 1989
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