The Effect of Line Geometry on Void Growth in Thin, Narrow...

MRS Proceedings 1991 / 1 Vol. 226

The Effect of Line Geometry on Void Growth in Thin, Narrow Aluminum Lines

Borgesen, P., Lee, J. K., Korhonen, M. A., Li, C.-Y.

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Volume:

226

Langue:

english

Journal:

MRS Proceedings

DOI:

10.1557/proc-226-407

Date:

January, 1991

Fichier:

PDF, 340 KB

english, 1991

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