Reflectivity difference spectroscopy study of thin film...

Reflectivity difference spectroscopy study of thin film ZnSe grown on GaAs by molecular beam epitaxy

C.C. Kim, Y.P. Chen, M. Daraselia, S. Sivananthan, S.-C.Y. Tsen, David J. Smith

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Volume:

175-176

Année:

1997

Langue:

english

Pages:

DOI:

10.1016/s0022-0248(96)01046-9

Fichier:

PDF, 613 KB

english, 1997

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