Contactless characterization of the recombination process...

Contactless characterization of the recombination process in silicon wafers: Separation between bulk and surface contribution

R. Bernini, A. Cutolo, A. Irace, P. Spirito, L. Zeni
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Volume:
39
Année:
1996
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1016/0038-1101(96)00013-5
Fichier:
PDF, 740 KB
english, 1996
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