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Volume 148; Issue 2
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Thin Solid Films
Volume 148; Issue 2
Thin Solid Films
Volume 148; Issue 2
1
Some problems encountered during the measurement of the activation energy of dark conductivity of undoped hydrogenated amorphous silicon films
R. Meaudre
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 224 KB
Vos balises:
english, 1987
2
Depth profiles of the optical properties of buried oxides (SIMOX) by ellipsometry
M. Levy
,
E. Scheid
,
S. Cristoloveanu
,
P. Hemment
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 428 KB
Vos balises:
english, 1987
3
Determination of the refractive index profile of arsenic-implanted GaP by ellipsometry
A. Kučírková
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 457 KB
Vos balises:
english, 1987
4
Optical properties of AgGaSe2 thin films
S.M. Patel
,
V.G. Kapale
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 309 KB
Vos balises:
english, 1987
5
Degradation of metal/oxide/semiconductor structures by Fowler-Nordheim tunnelling injection
B. Balland
,
C. Plossu
,
S. Bardy
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 748 KB
Vos balises:
english, 1987
6
Grain boundary interdiffusion in Cd/Te thin film couples
A. Jadin
,
R. Andrew
,
M. Wautelet
,
B. Dumont
,
L.D. Laude
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 335 KB
Vos balises:
english, 1987
7
Limits to the hardness testing of films thinner than 1 μm
J.D.J. Ross
,
H.M. Pollock
,
J.C. Pivin
,
J. Takadoum
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 509 KB
Vos balises:
english, 1987
8
X-ray diffraction studies of Bi2O3 films prepared by reactive and activated reactive evaporation
Joy George
,
B. Pradeep
,
K.S. Joseph
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 382 KB
Vos balises:
english, 1987
9
Electrodeposition and characterization of cuprous oxide
A.E. Rakhshani
,
A.A. Al-Jassar
,
J. Varghese
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 601 KB
Vos balises:
english, 1987
10
Thin film transistors with Er2O3 gate insulators
P. Singh
,
B. Baishya
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 232 KB
Vos balises:
english, 1987
11
Characterization of Ni-Cr thin films by X-ray analysis
T.C. Huang
,
J.K. Howard
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 534 KB
Vos balises:
english, 1987
12
Theoretical analysis of the Einstein relation in ultrathin films of degenerate ternary chalcopyrite semiconductors
K.P. Ghatak
,
M. Mondal
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 560 KB
Vos balises:
english, 1987
13
Optical properties of tungsten bronze surfaces
F.G.K. Baucke
,
J.A. Duffy
,
P.R. Woodruff
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 127 KB
Vos balises:
english, 1987
14
Phosphorus-doped silicon films prepared by low pressure chemical vapour deposition of disilane and phosphine
W. Ahmed
,
D.B. Meakin
Journal:
Thin Solid Films
Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 145 KB
Vos balises:
english, 1987
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