Volume 1; Issue 5

Thin Solid Films

Volume 1; Issue 5
1

A study of electrical conduction in island structure nickel and 80:20 nickel-chromium films

Année:
1968
Langue:
english
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PDF, 1.87 MB
english, 1968
2

Structural model for amorphous germanium layers

Année:
1968
Langue:
english
Fichier:
PDF, 573 KB
english, 1968
4

A phenomenon associated with the abrasion of CrSiO cermet resistors

Année:
1968
Langue:
english
Fichier:
PDF, 275 KB
english, 1968
5

F centres and the epitaxial growth of nickel

Année:
1968
Langue:
english
Fichier:
PDF, 258 KB
english, 1968
6

Factors influencing the accuracy of a quartz-crystal-oscillator as a thickness monitor for thin film deposition

Année:
1968
Langue:
english
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PDF, 175 KB
english, 1968
7

Corrigendum

Année:
1968
Fichier:
PDF, 132 KB
1968
8

Thin film and bulk structures of phases in the system gold-aluminum

Année:
1968
Langue:
english
Fichier:
PDF, 1.68 MB
english, 1968
9

Electrical conduction in amorphous germanium

Année:
1968
Langue:
english
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PDF, 725 KB
english, 1968
10

The optical absorption of island films at oblique incidence

Année:
1968
Langue:
english
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PDF, 267 KB
english, 1968
11

A thermal annealing treatment for thin film NiCr resistors

Année:
1968
Langue:
english
Fichier:
PDF, 192 KB
english, 1968