Volume 31; Issue 8

Journal of Lightwave Technology

Volume 31; Issue 8
15

Continuous Measurement of Particle Depth in a Microchannel Using Chromatic Aberration

Année:
2013
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english
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english, 2013
27

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2013
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2013
28

Journal of Lightwave Technology information for authors

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2013
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english, 2013
29

Front Cover

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2013
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2013
30

Table of contents

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2013
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english, 2013
31

Journal of Lightwave Technology publication information

Année:
2013
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english
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english, 2013
32

IEEE Xplore Digital Library

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2013
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2013
33

IEEE Photonics Society Membership

Année:
2013
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2013
34

Open Access

Année:
2013
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2013
35

2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

Année:
2013
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2013