Volume 341; Issue 3-4

2

Surface analysis and surface measuring techniques in firearm offences

Année:
1991
Langue:
english
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PDF, 2.87 MB
english, 1991
5

Growth and characterization of Si/Sb superlattices

Année:
1991
Langue:
english
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PDF, 331 KB
english, 1991
8

A fully computer controlled, low cost STM

Année:
1991
Langue:
english
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PDF, 867 KB
english, 1991
9

A fully computerized modular scanning tunneling microscope system

Année:
1991
Langue:
english
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PDF, 815 KB
english, 1991
10

Characterization of tungsten tips for STM by SEM/AES/XPS

Année:
1991
Langue:
english
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PDF, 474 KB
english, 1991
13

SIMS and AES measurements on the LaNi5-hydrogen system

Année:
1991
Langue:
english
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PDF, 429 KB
english, 1991
14

The application of surface analytical techniques to silicon technology

Année:
1991
Langue:
english
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PDF, 1.51 MB
english, 1991
15

Surface analysis of functional layers for semiconductor production

Année:
1991
Langue:
english
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PDF, 2.15 MB
english, 1991
20

Analysis of ionic solids with SNMS

Année:
1991
Langue:
english
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PDF, 588 KB
english, 1991
25

CEMS/XPS study of iron stearate Langmuir-Blodgett layers

Année:
1991
Langue:
english
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PDF, 301 KB
english, 1991
29

Interface analysis of the system Si/YBa2Cu3O7−x

Année:
1991
Langue:
english
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PDF, 541 KB
english, 1991