Irradiation temperature dependence of radiation damage in...

Irradiation temperature dependence of radiation damage in STI Si diodes

H. Ohyama, K. Hayama, K. Takakura, T. Miura, K. Shigaki, T. Jono, E. Simoen, A. Poyai, C. Claeys

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Volume:

Année:

2003

Langue:

english

Pages:

DOI:

10.1016/s0167-9317(02)00937-1

Fichier:

PDF, 141 KB

english, 2003

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