Why hot carrier emission based timing probes will work for...

Microelectronics Reliability 2001 Vol. 41; Iss. 9-10

Why hot carrier emission based timing probes will work for 50 nm, 1V CMOS technologies

J.C. Tsang, M.V. Fischetti
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Volume:
41
Année:
2001
Pages:
6
DOI:
10.1016/s0026-2714(01)00194-9
Fichier:
PDF, 424 KB
2001
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