Electromigration and electrochemical reaction mixed failure...

Microelectronics Reliability 2001 Vol. 41; Iss. 8

Electromigration and electrochemical reaction mixed failure mechanism in gold interconnection system

Hide Murayama, Makoto Yamazaki, Shigeru Nakajima
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Volume:
41
Année:
2001
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1016/s0026-2714(01)00112-3
Fichier:
PDF, 1.45 MB
english, 2001
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