Campagne de collecte 15 septembre 2024 – 1 octobre 2024 C'est quoi, la collecte de fonds?

Oxide reliability: influence of interface roughness,...

Microelectronics Reliability 2001 Vol. 41; Iss. 7

Oxide reliability: influence of interface roughness, structure layout, and depletion layer formation

B. Lanchava, P. Baumgartner, A. Martin, A. Beyer, E. Mueller
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Volume:
41
Année:
2001
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/s0026-2714(01)00069-5
Fichier:
PDF, 98 KB
english, 2001
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