Wavelet-based feature extraction using probabilistic finite...

Pattern Recognition 2011 Vol. 44; Iss. 7

Wavelet-based feature extraction using probabilistic finite state automata for pattern classification

Xin Jin, Shalabh Gupta, Kushal Mukherjee, Asok Ray
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Volume:
44
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
14
DOI:
10.1016/j.patcog.2010.12.003
Fichier:
PDF, 1.77 MB
english, 2011
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