Holistic RBS–PIXE data reanalysis of SBT thin film samples

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 2007 Vol. 261; Iss. 1-2

Holistic RBS–PIXE data reanalysis of SBT thin film samples

M.A. Reis, N.P. Barradas, C. Pascual-Izarra, P.C. Chaves, A.R. Ramos, E. Alves, G. González-Aguilar, M.E.V. Costa, I.M. Miranda Salvado
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Volume:
261
Année:
2007
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/j.nimb.2007.04.284
Fichier:
PDF, 196 KB
english, 2007
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