Ageing of SiC JFET transistors under repetitive current...

Microelectronics Reliability 2010 Vol. 50; Iss. 9-11

Ageing of SiC JFET transistors under repetitive current limitation conditions

M. Bouarroudj-Berkani, D. Othman, S. Lefebvre, S. Moumen, Z. Khatir, T. Ben Sallah
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
50
Année:
2010
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1016/j.microrel.2010.07.035
Fichier:
PDF, 941 KB
english, 2010
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué