Interface traps density-of-states as a vital component for...

Microelectronics Reliability 2010 Vol. 50; Iss. 9-11

Interface traps density-of-states as a vital component for hot-carrier degradation modeling

S.E. Tyaginov, I.A. Starkov, O. Triebl, J. Cervenka, C. Jungemann, S. Carniello, J.M. Park, H. Enichlmair, M. Karner, Ch. Kernstock, E. Seebacher, R. Minixhofer, H. Ceric, T. Grasser
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Volume:
50
Année:
2010
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1016/j.microrel.2010.07.030
Fichier:
PDF, 912 KB
english, 2010
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