A process for high yield and high performance carbon...

Microelectronics Reliability 2010 Vol. 50; Iss. 5

A process for high yield and high performance carbon nanotube field effect transistors

Tseng-Chin Lee, Bing-Yue Tsui, Pei-Jer Tzeng, Ching-Chiun Wang, Ming-Jinn Tsai
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
50
Année:
2010
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/j.microrel.2010.01.008
Fichier:
PDF, 462 KB
english, 2010
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué