A real-time aging monitoring method of parallel-connected...

Materials Science in Semiconductor Processing 2021 / 03 Vol. 124

A real-time aging monitoring method of parallel-connected IGBT modules

Yuan, Weibo, He, Yigang, Li, Zhigang, Ruan, Yi, Lu, Li, Li, Bing
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Volume:
124
Journal:
Materials Science in Semiconductor Processing
DOI:
10.1016/j.mssp.2020.105555
Date:
March, 2021
Fichier:
PDF, 285 KB
2021
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