Microcharacterization of Defects Induced in Fused Silica by...

Microscopy and Microanalysis 2001 / 08 Vol. 7; Iss. S2

Microcharacterization of Defects Induced in Fused Silica by High Power 3ω UV (355nm) Laser Pulses

Stevens-Kalceff, Marion A., Wong, Joe, Stesmans, Andre
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Volume:
7
Journal:
Microscopy and Microanalysis
DOI:
10.1017/S1431927600028555
Date:
August, 2001
Fichier:
PDF, 993 KB
2001
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