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[IEEE 2020 IEEE 29th Conference on Electrical Performance of Electronic Packaging and Systems (EPEPS) - San Jose, CA, USA (2020.10.5-2020.10.7)] 2020 IEEE 29th Conference on Electrical Performance of Electronic Packaging and Systems (EPEPS) - Analysis of Power Supply Noise Induced Jitter of I/O Subsystems with Multiple Power Domains

Kang, Hyo-Soon, Hashemi, Ashkan, Chen, Guang, Liu, Xiaoping, Beyene, Wendemagegnehu
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Année:
2020
DOI:
10.1109/epeps48591.2020.9231428
Fichier:
PDF, 212 KB
2020
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