A Survey of Testing Techniques for Approximate Integrated...

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Proceedings of the IEEE 2020

A Survey of Testing Techniques for Approximate Integrated Circuits

Traiola, Marcello, Virazel, Arnaud, Girard, Patrick, Barbareschi, Mario, Bosio, Alberto
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Année:
2020
Journal:
Proceedings of the IEEE
DOI:
10.1109/JPROC.2020.2999613
Fichier:
PDF, 3.70 MB
2020
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