Probing tunnel barrier shape and its effects on inversed...

Journal of Electronic Materials 2004 Vol. 33; Iss. 11

Probing tunnel barrier shape and its effects on inversed tunneling magnetoresistance at high bias

Wen-Ting Sheng, W. G. Wang, X. H. Xiang, F. Shen, Fei-Fei Li, T. Zhu, Z. Zhang, Zheng-Zhong Li, Jun Du, An Hu, John Q. Xiao
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Volume:
33
Année:
2004
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1007/s11664-004-0153-3
Fichier:
PDF, 492 KB
english, 2004
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