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[IEEE 2020 IEEE 40th International Conference on Electronics and Nanotechnology (ELNANO) - Kyiv, Ukraine (2020.4.22-2020.4.24)] 2020 IEEE 40th International Conference on Electronics and Nanotechnology (ELNANO) - Optimization of 4T Pixel Structure BiCMOS Detectors using y-parameter Representation

Venter, Johan, Sinha, Saurabh
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Année:
2020
DOI:
10.1109/ELNANO50318.2020.9088818
Fichier:
PDF, 314 KB
2020
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