A Density Metric for Semiconductor Technology [Point of...

Proceedings of the IEEE 2020 / 4 Vol. 108; Iss. 4

A Density Metric for Semiconductor Technology [Point of View]

Wong, H.-S. Philip, Akarvardar, Kerem, Antoniadis, Dimitri, Bokor, Jeffrey, Hu, Chenming, King-Liu, Tsu-Jae, Mitra, Subhasish, Plummer, James D., Salahuddin, Sayeef
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Volume:
108
Journal:
Proceedings of the IEEE
DOI:
10.1109/JPROC.2020.2981715
Date:
April, 2020
Fichier:
PDF, 1.47 MB
2020
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