GaP/Si(001) interface study by XPS in combination with Ar...

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Applied Surface Science 2020 / 2

GaP/Si(001) interface study by XPS in combination with Ar gas cluster ion beam sputtering

Romanyuk, O., Gordeev, I., Paszuk, A., Supplie, O., Stoeckmann, J.P., Houdkova, J., Ukraintsev, E., Bartoš, I., Jiříček, P., Hannappel, T.
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Langue:
english
Journal:
Applied Surface Science
DOI:
10.1016/j.apsusc.2020.145903
Date:
February, 2020
Fichier:
PDF, 2.28 MB
english, 2020
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