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[IEEE 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - San Francisco, CA, USA (2019.12.7-2019.12.11)] 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - High Volume Electrical Characterization of Semiconductor Qubits

Pillarisetty, R., Kashani, N., Keys, P., Kotlyar, R., Luthi, F., Michalak, D., Millard, K., Roberts, J., Torres, J., Zietz, O., Krahenmann, T., George, H. C., Zwerver, A. - M., Veldhorst, M., Scappucc
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Année:
2019
Langue:
english
DOI:
10.1109/IEDM19573.2019.8993587
Fichier:
PDF, 4.91 MB
english, 2019
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