Coarse-to-Fine Deep Metric Learning for Remote Sensing...

Remote Sensing 2020 / 01 Vol. 12; Iss. 2

Coarse-to-Fine Deep Metric Learning for Remote Sensing Image Retrieval

Yun, Min-Sub, Nam, Woo-Jeoung, Lee, Seong-Whan
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Volume:
12
Journal:
Remote Sensing
DOI:
10.3390/rs12020219
Date:
January, 2020
Fichier:
PDF, 26.14 MB
2020
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