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Structural stability of In2O3films as sensor materials

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 2010 / 04 Vol. 21; Iss. 4

Structural stability of In2O3films as sensor materials

V. Smatko, V. Golovanov, C. C. Liu, A. Kiv, D. Fuks, I. Donchev, M. Ivanovskaya
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Volume:
21
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1007/s10854-009-9921-4
Date:
April, 2010
Fichier:
PDF, 351 KB
english, 2010
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