Spatial variations of carrier and defect concentration in...

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 2008 / 12 Vol. 19; Iss. 1 Suppleme

Spatial variations of carrier and defect concentration in VGF GaAs:Si

Martina Baeumler, Frank Börner, Ulrich Kretzer, Max Scheffer-Czygan, Thomas Bünger, Joachim Wagner
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Volume:
19
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1007/s10854-007-9532-x
Date:
December, 2008
Fichier:
PDF, 332 KB
english, 2008
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