Sputtered rutile stoichiometric TiO2nanocrystalline films

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 2006 / 10 Vol. 17; Iss. 10

Sputtered rutile stoichiometric TiO2nanocrystalline films

A. Vale, N. Chaure, M. Simonds, A. K. Ray, N. Bricklebank
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Volume:
17
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1007/s10854-006-0034-z
Date:
October, 2006
Fichier:
PDF, 214 KB
english, 2006
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