Design Considerations for Robust Manufacturing and High...

Materials Science Forum 2019 / 7 Vol. 963

Design Considerations for Robust Manufacturing and High Yield of 1.2 kV 4H-SiC VDMOS Transistors

Schlichting, Holger, Sledziewski, Tomasz, Bauer, Anton, Erlbacher, Tobias
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Volume:
963
Journal:
Materials Science Forum
DOI:
10.4028/www.scientific.net/msf.963.763
Date:
July, 2019
Fichier:
PDF, 3.25 MB
2019
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