Defect Analysis and Defect Tolerant Design of Multi-port...

Journal of Electronic Testing 2008 / 06 Vol. 24; Iss. 1-3

Defect Analysis and Defect Tolerant Design of Multi-port SRAMs

Lushan Liu, Pradeep Nagaraj, Shambhu Upadhyaya, Ramalingam Sridhar
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Volume:
24
Langue:
english
Pages:
15
DOI:
10.1007/s10836-007-5023-5
Date:
June, 2008
Fichier:
PDF, 355 KB
english, 2008
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