Impact of Body Bias on Delay Fault Testing of Sub-100

Journal of Electronic Testing 2006 / 04 Vol. 22; Iss. 2

Impact of Body Bias on Delay Fault Testing of Sub-100

Bipul C. Paul, Kaushik Roy
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Volume:
22
Langue:
english
Pages:
10
DOI:
10.1007/s10836-006-7427-z
Date:
April, 2006
Fichier:
PDF, 322 KB
english, 2006
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