NEGF simulations of the effect of strain on scaled double...

Journal of Computational Electronics 2008 / 09 Vol. 7; Iss. 3

NEGF simulations of the effect of strain on scaled double gate nanoMOSFETs

Karol Kalna, Antonio Martinez, A. Svizhenko, M. P. Anantram, J. R. Barker, A. Asenov
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Volume:
7
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1007/s10825-008-0212-8
Date:
September, 2008
Fichier:
PDF, 492 KB
english, 2008
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