Intrinsic Parameter Fluctuations in Conventional MOSFETs at...

Journal of Computational Electronics 2004 / 10 Vol. 3; Iss. 3-4

Intrinsic Parameter Fluctuations in Conventional MOSFETs at the Scaling Limit: A Statistical Study

Fikru Adamu-Lema, Gareth Roy, Andrew R. Brown, Asen Asenov, Scott Roy
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Volume:
3
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1007/s10825-004-7045-x
Date:
October, 2004
Fichier:
PDF, 276 KB
english, 2004
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