Material Characterization of a Doped Triangular Silicon...

Advanced Science Letters 2018 / 11 Vol. 24; Iss. 11

Material Characterization of a Doped Triangular Silicon Nanowire Using Raman Spectroscopy

Za’bah, Nor F, Ralib, Aliza Aini Md, Kwa, Kelvin S. K, O’Neill, Anthony
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Volume:
24
Journal:
Advanced Science Letters
DOI:
10.1166/asl.2018.12384
Date:
November, 2018
Fichier:
PDF, 3.71 MB
2018
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