Monolayer Semiconductors: Scanning Probe Lithography...

Monolayer Semiconductors: Scanning Probe Lithography Patterning of Monolayer Semiconductors and Application in Quantifying Edge Recombination (Adv. Mater. 48/2019)

Zhao, Peida, Wang, Ruixuan, Lien, Der‐Hsien, Zhao, Yingbo, Kim, Hyungjin, Cho, Joy, Ahn, Geun Ho, Javey, Ali
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Volume:
31
Journal:
Advanced Materials
DOI:
10.1002/adma.201970340
Date:
November, 2019
Fichier:
PDF, 2.08 MB
2019
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