Recovery after hot-carrier injection: Slow versus fast...

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Microelectronics Reliability 2019 / 9

Recovery after hot-carrier injection: Slow versus fast traps

de Jong, Maurits J., Salm, Cora, Schmitz, Jurriaan
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Journal:
Microelectronics Reliability
DOI:
10.1016/j.microrel.2019.06.010
Date:
September, 2019
Fichier:
PDF, 836 KB
2019
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