Prediction of Field Failure Rate using Data Mining in the...

Procedia Computer Science 2018 Vol. 139

Prediction of Field Failure Rate using Data Mining in the Automotive Semiconductor

Yun, Gyungsik, Jung, Hee-Won, Park, Sungbum
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Volume:
139
Année:
2018
Langue:
english
Journal:
Procedia Computer Science
DOI:
10.1016/j.procs.2018.10.242
Fichier:
PDF, 903 KB
english, 2018
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