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[IEEE 2019 IEEE European Test Symposium (ETS) - Baden-Baden, Germany (2019.5.27-2019.5.31)] 2019 IEEE European Test Symposium (ETS) - DFT Scheme for Hard-to-Detect Faults in FinFET SRAMs

Medeiros, Guilherme Cardoso, Taouil, Mottaqiallah, Fieback, Moritz, Poehls, Leticia Bolzani, Hamdioui, Said
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Année:
2019
Langue:
english
DOI:
10.1109/ets.2019.8791517
Fichier:
PDF, 1.06 MB
english, 2019
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