Degradation of AlInAs/InGaAs/InP quantum cascade lasers due...

Microelectronics Reliability 2019 / 08 Vol. 99

Degradation of AlInAs/InGaAs/InP quantum cascade lasers due to electrode adhesion failure

Pierścińska, D., Pierściński, K., Sobczak, G., Gutowski, P., Płuska, M., Bugajski, M.
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Volume:
99
Langue:
english
Journal:
Microelectronics Reliability
DOI:
10.1016/j.microrel.2019.06.003
Date:
August, 2019
Fichier:
PDF, 3.38 MB
english, 2019
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