X-ray diffraction micro-imaging of strain in laterally...

Applied Physics A: Materials Science & Processing 2008 / 06 Vol. 91; Iss. 4

X-ray diffraction micro-imaging of strain in laterally overgrown GaAs layers. Part II: analysis of multi-stripe and fully overgrown layers

A. Czyzak, J.Z. Domagala, Z.R. Zytkiewicz
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
91
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1007/s00339-008-4510-6
Date:
June, 2008
Fichier:
PDF, 1.58 MB
english, 2008
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué